본문 내용으로 건더뛰기

KDI 경제정보센터

ENG
  • Economic

    Information

    and Education

    Center

최신자료
디스플레이용 마이크로 LED 품질검사 방법, 국제 표준으로 추진
국가기술표준원
2024.05.22 3p
산업통상자원부 국가기술표준원은 5.22.(수)~5.24.(금)까지 제주에서 개최되는 반도체 소자(IEC TC47) 국제표준 회의에서 이번 표준을 제안했다.

- 차세대 디스플레이의 핵심부품으로 평가되는 마이크로 엘이디(Micro LED, 초소형 발광 다이오드) 소자의 검사장비 기술이 국제표준으로 추진함.

- 최근 우리나라는 인공지능용 뉴로모픽 반도체, 시스템 반도체 공정 부품 검사장비 등의 국제표준 개발을 주도하고 있으며, 이번 회의에서 디스플레이용 마이크로 LED 소자 품질평가 방법을 신규로 제안함.

- 제안 표준은 광발광(Photoluminescence) 측정법을 활용한 비접촉식 마이크로 LED 소자 품질 검사 방법임. 광발광 측정법은 LED 소자가 레이저 등을 통해 빛에너지를 받으면 마치 전원이 연결된 것처럼 빛을 내는데, 이 빛을 분석하여 검사하는 비접촉식 방법임.

- 기존 방식인 전원을 연결하는 접촉식방법 대비 빠르고 경제적으로 불량 여부를 확인할 수 있어 마이크로 LED소자 품질 검사 비용을 50%이상 절감할 수 있을 것으로 기대됨.

<참고>
1. 반도체 소자(IEC TC47) 국제표준화 회의 개요
2. 반도체 소자 기술 위윈회(IEC TC47) 개요