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‘반도체 검사 핵심기술’ 해외로 빼돌린 전직 직원 3명 덜미
지식재산처는 ’26.10.14.(수) 반도체 검사 핵심기술을 해외로 유출한 전직 직원 3명을 적발했다.
- 기술경찰과 대전지방공소청은 피해기업의 반도체 검사 핵심기술(프로브카드 기술)을 해외 제조기업 생산에 사용한 전직 직원 1명을 구속 기소하고 2명을 불구속 기소함.
- 이들은 연봉 2배를 제안받고 해외 기업으로 이직(’23.11월)하여 피해기업의 설계도면·자료를 이용, 시제품을 생산해 해외에 공급(’25.12월)한 것으로 확인됨.
- 기술경찰은 국가정보원 첩보로 ’25.7월 수사에 착수, 국내 설계기업 압수수색(’26.7월) 등 정밀 수사로 증거를 확보했고, 주범 D씨에 대해 인터폴 적색수배를 요청함.
- 본 사건은 형사사법체계 개편 이후 기술유출범죄에 대한 첫 기소사례로, 기술경찰과 공소청의 협조로 수사공백 없이 절차가 진행됨.
- 지식재산처는 해외 기술유출 처벌수위 강화와 해외기업에 대한 처벌 도입 등 제도개선을 추진할 계획임.
<붙임>
1. 수사개요
2. 반도체 검사 장비 기술 개요
- 기술경찰과 대전지방공소청은 피해기업의 반도체 검사 핵심기술(프로브카드 기술)을 해외 제조기업 생산에 사용한 전직 직원 1명을 구속 기소하고 2명을 불구속 기소함.
- 이들은 연봉 2배를 제안받고 해외 기업으로 이직(’23.11월)하여 피해기업의 설계도면·자료를 이용, 시제품을 생산해 해외에 공급(’25.12월)한 것으로 확인됨.
- 기술경찰은 국가정보원 첩보로 ’25.7월 수사에 착수, 국내 설계기업 압수수색(’26.7월) 등 정밀 수사로 증거를 확보했고, 주범 D씨에 대해 인터폴 적색수배를 요청함.
- 본 사건은 형사사법체계 개편 이후 기술유출범죄에 대한 첫 기소사례로, 기술경찰과 공소청의 협조로 수사공백 없이 절차가 진행됨.
- 지식재산처는 해외 기술유출 처벌수위 강화와 해외기업에 대한 처벌 도입 등 제도개선을 추진할 계획임.
<붙임>
1. 수사개요
2. 반도체 검사 장비 기술 개요
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